走査型電子顕微鏡セミナー
走査型電子顕微鏡は、金属、半導体、セラミックスなどの様々な分野で活用され、三次元的な画像により表面観察ができる用途の広い装置です。分析用の多様な付属装置・機器との接続によって、研究開発や品質検査の現場で活躍しています。
本セミナーでは、走査型電子顕微鏡の基礎的な仕組み、観察での注意点、試料前処理について解説します。また、ハイテクプラザ保有装置の見学、活用方法をご紹介します。
〇内 容 ・走査型電子顕微鏡の基礎
・走査型電子顕微鏡で観察のための試料前処理の基礎
・ハイテクプラザ内の見学
走査型電子顕微鏡装置と前処理装置の紹介
○日時 令和7年7月18日(金)13時30分~16時30分
○場所 福島県ハイテクプラザ(郡山市待池台1-12)1F 研修室
○受講料 無料 ○定 員 20名
○講師 (株)日立ハイテクフィールディング 西村雅子氏、柏原慎一氏
○締め切り 令和7年7月15日(火)
○申込・問合せ (公財)福島県産業振興センター技術支援部(テクノ・コム)竹内
〒963-0215 郡山市待池台1-12(福島県ハイテクプラザ内)
Tel 024-959-1929 Fax 024-959-1889
E-mail seminar@f-open.or.jp
下記申込書にご記入の上、E-mail又は FAXにてお申し込みください。
「走査型電子顕微鏡セミナー」申込書
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