走査型電子顕微鏡セミナー

走査型電子顕微鏡は、金属、半導体、セラミックスなどの様々な分野で活用され、三次元的な画像により表面観察ができる用途の広い装置です。分析用の多様な付属装置・機器との接続によって、研究開発や品質検査の現場で活躍しています。

本セミナーでは、走査型電子顕微鏡の基礎的な仕組み、観察での注意点、試料前処理について解説します。また、ハイテクプラザ保有装置の見学、活用方法をご紹介します。

〇内　容　 　　　・走査型電子顕微鏡の基礎

・走査型電子顕微鏡で観察のための試料前処理の基礎

・ハイテクプラザ内の見学

走査型電子顕微鏡装置と前処理装置の紹介

○日時　　令和７年７月１８日（金）１３時３０分～１６時３０分　

○場所　　福島県ハイテクプラザ（郡山市待池台1-12）１Ｆ　研修室

○受講料　　無料　　　　　○定　員　　　　 ２０名

○講師　  （株）日立ハイテクフィールディング　西村雅子氏、柏原慎一氏

○締め切り　　令和７年７月１５日（火）　

○申込・問合せ　　（公財）福島県産業振興センター技術支援部（テクノ・コム）竹内

　　　　　　　　　〒963-0215　郡山市待池台1-12（福島県ハイテクプラザ内）

Tel 024-959-1929　Fax 024-959-1889　

E-ｍail seminar@f-open.or.jp

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「走査型電子顕微鏡セミナー」申込書

事務連絡担当者名　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　所属　　　　　　　　　　　　　

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