異物解析セミナー（無機）

　異物の大きさや形態は多様であり、また材質も金属・鉱物・樹脂等さまざまなものがあります。実務における異物同定でお困りの方へ、無機異物にフォーカスした電子顕微鏡や元素分析装置に関する観察・分析・解析テクニックについて業務に役立つ情報をご紹介します。

　日常的な分析において必要な基礎知識、観察のための前処理、正しい分析を行うために必要な注意点、事例・最新情報紹介などに加え、実機実演を交えてワークショップ形式でご紹介します。

■内容

〇座学１

　（1）SEM/EDSの基礎

　（2）目的に応じたアプリケーションデータの紹介

〇座学２

　（1）デジタルマイクロスコープ概要説明、観察事例及び機能紹介

　（2）レーザー有機ブレークダウン分光法（LIBS）の概要、特徴と測定事例の紹介

〇実機実演

　（1）走査型電子顕微鏡JCM-7000(EDS付)を用いたアプリケーションの紹介

　（2）デジタルマイクロスコープHRX-02を用いた観察実演、顕微鏡LIBS装置を用いた観察、元素分析の実演

〇ハイテクプラザ保有機器見学                                            

■講師

　日本電子株式会社

　　EP事業ユニット　EPアプリケーション部　　池谷　綾美　氏

　株式会社ハイロックス

　　営業部　　上代　敦士　氏

　株式会社Smart Laser & Plasma Systems

　　代表取締役　　出口　祥啓　氏

■日時

　令和８年９月９日(水)　１３時３０分～１７時００分

■場所

　福島県ハイテクプラザ　1階　研修室　　（郡山市待池台1-12）

■受講料

　無料

■定員

　２０名

 ■申込締切

令和８年８月２６日(水)　　※定員になり次第締め切ります。 

申込書はこちら→　R8　ibutsu_muki.pdf