X線光電子分光の基礎セミナー
X線光電子分光法（XPS/ESCA）では最表面（数nm）の解析を行うことができます。本セミナーでは、サンプリングのポイントといった基礎から、化学状態解析、深さ方向分析等の手法を解析事例を交えて紹介します。表面処理、多層膜等の試料をはじめ、金属材料や高分子材料など多くの材料の解析が可能です。ハイテクプラザの実機見学もあります。
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